Analytik & Messtechnik
Wir bieten umfangreiches Know-how und technische Ressourcen für komplexe Analyseprobleme und Messaufträge über die gesamte Wertschöpfungskette. In der Mikrowellen-Messtechnik führen wir für Kunden und Partner grundlegende DC- und HF-Charakterisierungen aktiver und passiver Bauelemente durch.
Darüber hinaus sind komplexe system- und anwendungsspezifische Messungen möglich, beispielsweise bei digitalen Leistungsverstärkern, MIMO- und Terahertz-Systemen. Sprechen Sie uns an!
Materialanalytik: Schicht- & Strukturanalyse
- Röntgenbeugung - Zusammensetzung und Schichtdicken
- Rasterkraftmikroskopie - Oberflächen charakterisieren
- Fotolumineszenz (PL), Elektrolumineszenz (EL), Reflexion und Transmission - optische Eigenschaften
- Fotostrom, spektral- und zeitaufgelöst
- Hall- und CV-Messungen - Ladungsträgerdichten
- Elektronenmikroskopie
Weitere Informationen zu unseren Analyseverfahren
Mikrowellen-Messtechnik
- DC-Messtechnik für aktive Bauelemente
- Kleinsignal S-Parameter-Messungen bis 1,1 THz
- Großsignalmessungen in der Frequenz-Domäne, Load-Pull bis 50 GHz
- Großsignalmessungen in der Zeit-Domäne für dynamische Lastlinien und Schaltvorgänge
- isotherme gepulste S-Parameter- und DC-Messungen
- IR- und thermische Widerstands-Messungen
- PA- und MMIC-Messungen mit breitbandigen Signalen für Leistungsverstärker und MIMO
- Over-the-air (OTA) Messungen (im Aufbau)
- THz-Spektrum- und Leistungsmessungen bis 750 GHz
Die Messungen führen wir in der Regel on-wafer mit Temperaturkontrolle durch, sie sind aber auch an fertigen Modulen mit Koaxial- oder Hohlleiter-(Wellenleiter) Verbindungen möglich.
Weitere Informationen zu unseren Charakterisierungsmöglichkeiten.