DRIP XX

Das FBH ist mit einem in Kooperation mit dem Max-Born-Institut für Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie (MBI) erstellten Konferenzbeitrag an der 20. International Conference on Defects – Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors beteiligt.

• Performance and reliability analysis of UV LEDs using complementary spectroscopic techniques

Weitere Informationen finden Sie auf der Konferenzwebsite.